大理石平臺(tái)的表面粗糙度需要測(cè)試，大理石平臺(tái)用天然的石質(zhì)材料制成的精密基準(zhǔn)測(cè)量工具，對(duì)儀器儀表、精密工具、機(jī)械制件的檢驗(yàn)，都是理想的基準(zhǔn)面。特別是用于高精度的測(cè)量方面，由于它得天獨(dú)厚的特性，而使鑄鐵平板相形見(jiàn)絀。下面小編介紹觀察大理石平臺(tái)表面粗糙度的幾種方法。
　　1、干涉顯微鏡測(cè)量法
　　干涉顯微鏡利用光波干涉原理來(lái)測(cè)量光波波長(zhǎng)處的表面粗糙度。 被測(cè)表面粗糙度呈現(xiàn)峰谷形干涉條紋。 通過(guò)目鏡觀測(cè)和千分尺測(cè)量干涉條紋的數(shù)目和峰谷的曲率程度，計(jì)算出表面粗糙度的 ra 值。 干涉條紋的峰值和谷值也可以通過(guò)攝影來(lái)評(píng)價(jià)。 將干涉法應(yīng)用于機(jī)械加工的表面粗糙度測(cè)量。 適合在計(jì)量室使用。
　　2、光切顯微鏡測(cè)量法
　　光學(xué)切割顯微鏡（雙管顯微鏡）是利用光切割原理測(cè)量表面粗糙度的一種方法。從目鏡上觀察表面粗糙度輪廓圖像，用千分尺測(cè)量Rz和Ry值。輪廓圖像也可以通過(guò)測(cè)量來(lái)繪制，并且可以再次計(jì)算Ra值，這是不常用的，因?yàn)樗姆椒ê軓?fù)雜?？蓪?duì)粗糙度剖面圖像進(jìn)行拍照和評(píng)估光切顯微鏡適用于計(jì)量室
　　3、電動(dòng)輪廓儀比較法
　　電線觸針式儀器。當(dāng)觸針在測(cè)試表面垂直于所述部分區(qū)域的紋理方向測(cè)量?jī)x，測(cè)得的水平移動(dòng)，直接從測(cè)得Ra值的行程指示儀表的。該Ra值被測(cè)量常用的方法。儀器或記錄裝置，示出了粗糙度輪廓曲線的放大圖，Ra和Rz的值重新計(jì)算。適用在計(jì)量腔室這樣的儀器。但是，便攜式電動(dòng)分析器可以在生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)使用。
　　4、顯微鏡比較法
　　待測(cè)表面與表面粗糙度對(duì)比試塊緊密結(jié)合，用對(duì)比顯微鏡觀察二者放大后的表面，以試塊工作表面的粗糙度為標(biāo)準(zhǔn)，觀察比較待測(cè)表面是否達(dá)到表面粗糙度以確定待測(cè)表面粗糙度是否符合要求。該方法不能測(cè)量粗糙度參數(shù)值。
　　5、樣塊比較法
　　以表面粗糙度試樣工作面的粗糙度作為標(biāo)準(zhǔn)，將被測(cè)試表面與目測(cè)法或觸覺(jué)法進(jìn)行比較，以確定被測(cè)試表面是否符合規(guī)定，試樣和表面的材料和處理方法應(yīng)盡可能相同，試樣比較法簡(jiǎn)單可行，適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)。 在大理石平臺(tái)的實(shí)際測(cè)試過(guò)程中，常用的方法是塊對(duì)比法。